AI 重塑半導體測試，京元電推四方模式
2026.08.17
京元電總經理表示，隨著 AI 晶片價值與整合複雜度提高，半導體測試正從「供應鏈的一部分」轉為「製程的一部分」，供應鏈的協作模式也隨之改變。
京元電子總經理張裕祥表示，隨著 AI 晶片的價值與整合複雜度持續提高，半導體測試的定位正在發生根本轉變——從過去被視為「供應鏈的一部分」，轉為「製程的一部分」；而供應鏈的協作模式，也隨之朝多方共同參與的方向演進。 這個定位轉變的背後，是測試在 AI 晶片生產中重要性的實質提升。傳統上，測試被安排在製造流程的末端，功能是篩選出不良品，屬於品質保證的環節；其成本佔比不高，技術含量也被視為低於前段製程…
